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化工仪器网>产品展厅>光学仪器及设备>电子显微镜>透射电子显微镜(透射电镜/TEM)> 200 kV场发射透射电镜 Talos F200i TEM

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200 kV场发射透射电镜 Talos F200i TEM

具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称 赛默飞电子显微镜
  • 品牌 FEI/赛默飞
  • 型号
  • 产地
  • 厂商性质 生产厂家
  • 更新时间 2023/6/8 12:10:01
  • 访问次数 461

联系方式:张怡玲查看联系方式

联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!


FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。

扫描电子显微镜,双束电镜,透射电子显微镜,冷冻电镜,X射线光电子能谱仪,三维可视化软件

价格区间 面议 仪器种类 热场发射
应用领域 环保,化工

200 kV场发射透射电镜 Talos F200i TEM

用于高通量、高分辨率化学表征和动态观察的 TEM 和 STEM 分析

主要特点

可搭配众多高分辨率场发射枪 (FEG)

选择 X-FEG、高亮度 X-FEG 或超高亮度冷场发射枪 (X-CFEG)。X-CFEG 将 (S)/TEM 成像及能量分辨率相结合。

可搭配双 EDS 技术

从单个 30 mm² 检测器到用于高通量(或低剂量)分析的双 100 mm² 检测器中,选择您需求的 EDS 检测器。

高质量 STEM/TEM 图像和准确的 EDS

创新且直观的 Velox 软件用户界面非常简单,从而轻松获得高质量的 TEM 或 STEM 图像。Velox 软件中的 EDS 吸收校正功能可实现最准确的定量。

的原位功能

添加断层扫描或原位样品架。快速摄像机、智能软件和我们的宽 X-TWIN 物镜间隙可在尽可能不降低分辨率和分析功能的情况下实现 3D 成像和原位采集。

200 kV场发射透射电镜 Talos F200i TEM提高了生产率

超稳定的色谱柱、借助 SmartCam 的远程操作和恒定功率物镜,可进行快速模式和高电压 (HT) 切换。多用户环境的快速轻松切换。

可重复性最高的数据

所有日常 TEM 调整、例如聚焦、共心高度、电子束移位、冷凝器光阑、电子束倾斜枢轴点和旋转中心都是自动进行的,确保您始终从最佳成像条件开始工作。实验可重现,使您可以专注于研究,而不是工具。

高速提供大视野成像

4k × 4k Ceta CMOS 摄像机及其大视野使得可以在整个高张力范围内以高灵敏度和高速进行实时数字缩放。

紧凑型设计

更小的占地面积和尺寸有助于在更具挑战性的空间中使用此工具,同时降低基础设施和支持成本。


性能数据

TEM
  • 线分辨率: ≤0.10 nm

操作 系统XX 单元
  • 控制器:Windows® 10

  • 远程控制:是

真空系统
  • 气锁抽气:无油和无振动

  • 冷阱:标准

  • 长时间杜瓦瓶:可选配 - 至少 4 天待机时间(重新补充之间)

STEM 成像
  • STEM 分辨率:  

    • ≤0.16 nm (S-FEG/X-FEG)

    • ≤0.14 nm ,100pA (X-CFEG)

  • 检测器: HAADF 和/或同轴 Panther BF/DF

能量色散 X 射线光谱 (EDS)
  • 检测器尺寸 (Bruker X-flash):30、100 或 双 100 mm2

  • 可伸缩: 是,电动

电子能量损失光谱 (EELS)
  • ≤0.8 eV (S-FEG/X-FEG)

  • ≤0.3 eV (X-CFEG)

枪亮度 200 kV
  • 4×108 A /cm2 srad (S-FEG)

  • 1.8×109 A /cm2 srad (X-FEG)

  • 2.4×109 A /cm2 srad (X-CFEG)





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