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透射电子显微镜(TEM)是使用较为广泛的电子显微镜之一，和扫描电子显微技术共同组成了电子显微学的“两大支柱”。TEM的测试原理是利用透过样品的电子进行成像和结构分析，由于电子的穿透能力较弱，样品的厚度、导电性、磁性和分散性等特征对测试结果的好坏起到直接的影响。因此，相比于扫描电镜样品的制备，透射电镜的制样更加复杂和精细，对于不同的材料应当根据其特性并采用合适的制样方法。
TEM测试中，为了获取高质量的样品图像，制样很关键。在制样的过程中，其中载网的选择也是至关重要。载网通常是一种多孔的金属片，对样品起加固和支撑作用。
本公司提供的多孔氮化硅TEM载网是透射电镜常用的耗材之一，其主要作用为在电镜观察时负载样品，为了能够负载一些小尺寸的样品，载网上通常需要覆盖一层载网膜，载网膜的种类繁多，常见的载网膜为碳膜。多孔氮化硅TEM载网是以高纯单晶硅为基底，超薄氮化硅(10-50nm)为支撑膜，可实现原子级分辨率。具有耐电子束辐照，电子束穿透率高，成像背景均匀和噪音小等优点。
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