本公司提供的透射电镜力电原位系统是通过MEMS芯片在原位样品台内构建力、电复合多场自动控制及反馈测量系统,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。
透射电镜力电原位系统的优势:
1、力学性能
(1)高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。
(2)可进行压缩、拉伸、弯曲等微观力学性能测试。
(3)nN级力学测量噪音。
(4)具备连续的载荷-位移-时间数据实时自动收集功能。
(5)具备恒定载荷、恒定位移、循环加载控制功能,适用于材料的蠕变特性、应力松弛、疲劳性能研究。
2、优异的电学性能
(1)芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达皮安级。
(2)MEMS微加工特殊设计,电场和力学加载同时进行,相互独立控制。
3、智能化软件
(1)人机分离,软件远程控制纳米探针运动。
(2)自动测量载荷-位移数据。
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