X射线无损膜厚仪Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果, zui小测量面积为直径为0.1mm的圆面积; 测量范围:0-35um;
X射线无损膜厚仪其特点为:激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个可选准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破坏性测厚仪器的机型。测量精度:误差控制在±5%.
X射线无损膜厚仪标准规格
检测系统 | |
检测器 | 正比计数器 |
检测滤片 | Co或Ni(选项) |
X-Y-Z三轴样片台 | |
操作模式 | 高速精密马达,可控制加减速 |
位置控制 | 鼠标定位 |
样品台窗口控制 | |
防呆摄录机监控 | |
2D、3D、随机定位 | |
程控定位 | |
箱门开关感应Y轴传输 | |
摄像系统 | |
摄像器 | 彩色数字CCD摄像头 |
显示模式 | 显示器覆盖模式 |
刻度线 | 软件产生 |
光束显示 | 软件显示真实大小 |
照明灯 | 光暗控制 |
自动修正功能 | 光束及十字线自动修正 |
统计功能 | |
处理项目 | zui大/zui小值,位移,平均值,标准差, Bar图表R图表及方型图等 |
报表 | 五种模式可选 |
处理能力 | zui多90项 |
标志功能 | 可插入公司标志 |
预览 | 打印前预览,可节省纸张 |
定性分析 | |
显示模式 | 原素频谱显示 |
方法 | ROI距离定性分析 |
原素显示 | 卷标图案显示 |
指针显示 | 显示原素及测量数值 |
ROI显示 | 显示ROI彩色图 |
放大功能 | 局部放大 |
平均功能 | 柔和显示频谱 |
窗口大小 | 无级别式窗口大小 |
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