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X射线无损膜厚仪

来源:深圳市鑫捷伟科技有限公司   2017年04月27日 11:21  

X射线无损膜厚仪Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。只需要10-30秒即可获得测量结果, zui小测量面积为直径为0.1mm的圆面积; 测量范围:0-35um;

X射线无损膜厚仪其特点为:激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个可选准直器(0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm)。是非破坏性测厚仪器的机型。测量精度:误差控制在±5%.

X射线无损膜厚仪标准规格

 

检测系统

检测器

正比计数器

检测滤片

Co或Ni(选项)

X-Y-Z三轴样片台

操作模式

高速精密马达,可控制加减速

 

 

位置控制

鼠标定位

样品台窗口控制

防呆摄录机监控

2D、3D、随机定位

程控定位

箱门开关感应Y轴传输

摄像系统

摄像器

彩色数字CCD摄像头

显示模式

显示器覆盖模式

刻度线

软件产生

光束显示

软件显示真实大小

照明灯

光暗控制

自动修正功能

光束及十字线自动修正

统计功能

处理项目

zui大/zui小值,位移,平均值,标准差,

Bar图表R图表及方型图等

报表

五种模式可选

处理能力

zui多90项

标志功能

可插入公司标志

预览

打印前预览,可节省纸张

定性分析

显示模式

原素频谱显示

方法

ROI距离定性分析

原素显示

卷标图案显示

指针显示

显示原素及测量数值

ROI显示

显示ROI彩色图

放大功能

局部放大

平均功能

柔和显示频谱

窗口大小

无级别式窗口大小

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