膜厚测量仪原理

膜厚测量仪膜厚测量根据测量原理一般有以下五种类型：

1.磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢，铁，银，镍。此种方法测量精度高。

2.涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量。此种较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法：适用多层涂镀层厚度的测量或者是以上两种方法都无法测量的场合。但一般价格昂贵，测量精度也不高。

4.电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高。测量起来比较其他几种麻烦。

5.放射测厚法：此处仪器价格非常昂贵（一般在10万RMB以上），适用于一些特殊场合。

膜厚测量仪的测试方法主要有：磁性测厚法，放射测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。

膜厚测量仪注意事项：

1、在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

2、测量时侧头与试样表面保持垂直。

3、测量时要注意基体金属的临界厚度，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

4、测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

5、测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

6、测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

7、在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数。

8、在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

膜厚测量仪磁感应测量原理：

采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，磁感应膜厚仪来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪，原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性，则要求与基材的导磁率之差足够大（如钢上镀镍）。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时，仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头，测量感应电动势的大小，仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术，利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路，引入微机，使测量精度和重现性有了大幅度的提高（几乎达一个数量级）。现代的磁感应测厚仪，分辨率达到0.1um，允许误差达1%，量程达10mm。磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层，瓷、搪瓷防护层，塑料、橡胶覆层，包括镍铬在内的各种有色金属电镀层，以及化工石油待业的各种防腐涂层。