【简单介绍】
品牌 | HIOKI/日本日置 |
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1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量
基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
【详细说明】
元器件测量仪器(电感、电容、电阻测量) |
阻抗分析仪IM3570 |
1台仪器实现不同测量条件下的高速检查 |
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主机不标配治具。请根据您的需求选择选件中的治具和探头。 |
基本参数 |
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