高低温光学测量 返回列表页

　　高低温光学测量系统在高低温下Panel的V-T cure测试，视角特性测试，与传统的五轴光学测量机台的区别是：FS-TC机台测量视角时不是被测产品进行旋转，而是光纤探测器进行旋转。

       产品概述：

　　与传统的五轴光学测量机台的区别在于FS-TC机台测量视角时不是被测产品进行旋转，而是光纤探测器进行旋转。这样做的优点是：

　　•旋转所占用的空间小，使机台整体体积变。

　　•被测产品可直接放在直立的载物治具上，不需要像传统五轴机台一样设计复杂的对夹治具，操作也更快捷方便。

　　•旋转的速度更快，节约测量时间。

　　•旋转时不需要像传统五轴机台一样做追点位置补偿，FS-TC探测器旋转时测量点位置不会改变。

　　高低温光学测量软件介绍：

　　1.FS-LMS软件支持的FPD基础光学特性测量项目:

　　1.1 Warm up Time热机时间测量。

　　1.2 Luminance Uniformity亮度色度均匀性测量。

　　1.3 RGB Color&Gamut红绿蓝色度和色域覆盖率测量。

　　1.4 Contrast Ratio黑白对比度测量。

　　1.5 Viewing Angle水平/垂直可视角、可视角测量、的φ方位角下的视角θ测量。

　　1.6灰阶Gamm测量Gray Scale/Gamma。

　　1.7.Cross-Talk串扰测量。

　　1.8均匀性和视角历史测量数据查看。