探真纳米科技自主研发的TZ Sharp-TapL130-Electric导电探针，拥有大高宽比圆锥针尖以及侧壁垂直针托。该系列产品不仅在分辨率、使用寿命等关键指标上优于进口同类产品，更以高性价比优势成为AFM探针国产替代的理想选择。

大高宽比圆锥针尖

1、TZ Sharp系列探针的圆锥形针尖，使其在与传统金字塔探针使用成本接近的前提下，因拥有大高宽比的优势而可以适配更多测试场景，如:深沟槽、陡直台阶等。

2、TZ Sharp系列探针针尖半锥角小，针尖尖更细长尖锐，相比金字塔探针，同样的磨损后依然很尖，使用寿命更长。

3、TZ Sharp系列探针噪音低，可以扫描单原子层二维材料和亚纳米的原子级台阶。

侧壁垂直台阶针托

1、TzSharp系列AFM探针针托两侧侧壁陡直，而不是<111>面斜坡，更加便于夹取，改善了探针夹取过程中易掉落的问题。

2、TZ Sharp系列探针悬臂梁与针托连接处采用了台阶结构设计，对光路友好，激光入射角更广，适用于各种型号AFM机台。