Otsuka大塚膜厚仪不仅不会破坏您的样品，也不会因用户不同而产生误差且远高于接触式膜厚的量测精度。利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域...

Otsuka大塚显微分光膜厚仪易操作适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚"测试的目的。此外，软件操作简单、使用...

Otsuka大塚 显微分光膜厚仪性价比高适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚"测试的目的。此外，软件操作简单、...

Otsuka大塚 显微分光膜厚仪简单操作适用于各种可透光膜层的测试，并有可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚"测试的目的。此外，软件操作简单、...

Otsuka大塚显微分光膜厚仪操作简单非接触OPTM系列使用物镜，可以物理去除内部反射，即使是透明基板也可以实现高精度测量。此外，对具有光学异向性的膜或SiC等...

Otsuka大塚 多通道光谱仪 易使用MCPD-6800是用于分光检测与分析的基本系统。可以瞬间进行分光光谱的测量,也可以通过自由组合的光学系和丰富的配件，搭建...

Otsuka大塚多通道光谱仪产品信息 特长 应用广泛的测量仪。 以高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。 我们可以根据客户的需求和用...

Otsuka大塚彩色光刻胶测量装置易使用产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检...

Otsuka大塚彩色滤光片测量装置 易使用产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有...

Otsuka大塚 液晶层间隙量测设备易使用产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基...

Otsuka大塚彩色滤光片测量装置 精度高产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有...

Otsuka大塚彩色滤光片测量装置 测量精度高产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的...

Otsuka大塚彩色滤光片测量装置产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装...

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Otsuka大塚彩色光刻胶测量装置高精度产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检...

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Otsuka大塚彩色光刻胶测量装置 产品信息 特点 以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的...

Otsuka大塚 ZETA电位·粒径·分子量测试系统ELSZ series的高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta ...