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形位公差测量系统

参  考  价面议
具体成交价以合同协议为准

产品型号Formline F435/F455

品       牌JENOPTIK/德国

厂商性质代理商

所  在  地武汉市

更新时间:2025-04-18 16:18:24浏览次数:85次

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产地类别 进口 应用领域 钢铁/金属,航空航天,汽车及零部件
F435 和 F455形位公差测量系统允许精准、可靠地测定圆度、圆柱形状和平整度。

F435 和 F455 形位公差测量系统允许精准、可靠地测定圆度、圆柱形状和平整度。

形位公差测量系统系统特征

– 工件自动定位,测量轴由CNC 程序控制,所以自动化程度高

– CNC 编程简单,不同工件可设计不同的测量报告

– 测量形位公差的软件功能强大

– 既适合批量生产时的高要求测量,也适合测量室的多品种测量

– 可选配Z 方向的自由探测系统用于测量粗糙度和波纹度

– 可选配 MBN 31007-07 标准的扭纹测量

– 可选择台架式测量仪或符合人体工程学需求的测量位置

产品优点

– 带空气轴承的高精密转台(直径250 mm),工件自动调心调平

– 三个机动测量轴

– 垂直测量轴可选择350或550 mm的测量行程

– 电动旋转和旋转模块MDS或旋转臂FS1即使在复杂的工件上也能实现*定位

– 配置了新一代磁性连接测头,使测量臂更换更快速稳定

– 可选择台式测量仪或符合人体工学设计的测量站

产品参数

F435/F455 工作台

工件重量:40kg

C/Z轴距离:325mm

可测直径:430mm

测量高度:350/550mm

定心/调平:自动

测量轴:C,Z,R

是否可选配粗糙度测量:否

F435/F455 形状测量工位

工件重量:40kg

C/Z轴距离:325mm

可测直径:430mm

测量高度:350/550mm

定心/调平:自动

测量轴:C,Z,R

是否可选配粗糙度测量:否

F435/F455 粗糙度测量工位

工件重量:40kg

C/Z轴距离:325mm

可测直径:430mm

测量高度:350/550mm

定心/调平:自动

测量轴:C,Z,R

是否可选配粗糙度测量:是,Z


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