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参考价: ￥ 100

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产品型号PAL-100-NUV-A

品牌SIGMAKOKI/西格玛光机

厂商性质经销商

所在地重庆市

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更新时间：2025-04-03 13:02:54浏览次数：745次

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倍率	10	焦距	20mm
焦深 (λ=550nm)	±6.9μm

倍率

焦距

20mm

焦深 (λ=550nm)

±6.9μm

SIGMAKOKI西格玛紫外用物镜/PAL-100-NUV-A

可以用于YAG的2次谐波（532nm）和4次谐波（266nm）脉冲激光的加工装置的物镜。
校正了可见谱区和UV激光波长两者的色差，具有高透过率。

物镜工作距离（WD）长，场曲也得到校正，在视场边缘也可以得到自然清晰的观察图像。
可以用于同轴观察系统或激光导入光学系统等，是无限共轭的物镜。
也可用于紫外光的观察。

激光损伤阈值(参考值) 0.09 J/cm2 (266nm)、0.2J/cm2 (532nm)
(脉冲宽：10ns、重复频率：20Hz)

YAG激光的3次谐波（355nm）加工用的高NA无限共轭物镜。
由于设计上校正了可见谱区像差，可以与激光光束同轴观察加工面。

可以用于同轴观察系统或激光导入光学系统等，是无限远校正的物镜。
也可用于近紫外光及红外光的观察。
此物镜也可用于可见光（532nm）的脉冲激光。
激光损伤阈值(参考值)0.05 J/cm2（355nm）、0.1J/cm2（532nm）
(脉冲宽：10ns、重复频率：20Hz)

近紫外用物镜 / PAL-NUV

YAG激光的3次谐波（355nm）加工用的高NA无限共轭物镜。
由于设计上校正了可见谱区像差，可以与激光光束同轴观察加工面。

SIGMAKOKI西格玛紫外用物镜/PAL-100-NUV-A技术指标

型号	镜筒标记	倍率	焦距	NA	工作距离 WD	分辨率 (λ=550nm)	焦深 (λ=550nm)	视场 (φ24目镜)	视场 (1/2”CCD)	自重
PAL-10-NUV	PlanApo NUV 10x	10倍	20mm	0.28	30.5mm	0.98μm	±3.5μm	φ2.4mm	0.48×0.64mm	0.27kg
PAL-20-NUV-B	PlanApo NUV 20x	20倍	10mm	0.4	17.36mm	0.69μm	±1.7μm	φ1.2mm	0.48×0.64mm	0.29kg
PAL-50-NUV-B	PlanApo NUV 50x	50倍	4mm	0.45	15.1mm	0.61μm	±1.4μm	φ0.48mm	0.10×0.13mm	0.36kg
PAL-100-NUV-A	PlanApo NUV 100x	100倍	2mm	0.57	11.23mm	0.48μm	±0.8μm	φ0.24mm	0.05×0.06mm	0.38kg
PAL-50-NUV-HR-L-B	PlanApo NUV HR 50x	50倍	4mm	0.65	9.11mm	0.42μm	±0.7μm	φ0.48mm	0.10×0.13mm	0.5kg
PAL-100-NUV-HR	PlanApo NUV HR 100x	100倍	2mm	0.7	10mm	0.39μm	±0.6μm	φ0.24mm	0.05×0.06mm	0.53kg

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可以用于YAG的2次谐波（532nm）和4次谐波（266nm）脉冲激光的加工装置的物镜。
校正了可见谱区和UV激光波长两者的色差，具有高透过率。

YAG激光的3次谐波（355nm）加工用的高NA无限共轭物镜。
由于设计上校正了可见谱区像差，可以与激光光束同轴观察加工面。

近紫外用物镜 / PAL-NUV

YAG激光的3次谐波（355nm）加工用的高NA无限共轭物镜。
由于设计上校正了可见谱区像差，可以与激光光束同轴观察加工面。

SIGMAKOKI西格玛紫外用物镜/PAL-100-NUV-A技术指标

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可以用于YAG的2次谐波（532nm）和4次谐波（266nm）脉冲激光的加工装置的物镜。校正了可见谱区和UV激光波长两者的色差，具有高透过率。

YAG激光的3次谐波（355nm）加工用的高NA无限共轭物镜。由于设计上校正了可见谱区像差，可以与激光光束同轴观察加工面。

近紫外用物镜 / PAL-NUV

YAG激光的3次谐波（355nm）加工用的高NA无限共轭物镜。由于设计上校正了可见谱区像差，可以与激光光束同轴观察加工面。

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可以用于YAG的2次谐波（532nm）和4次谐波（266nm）脉冲激光的加工装置的物镜。
校正了可见谱区和UV激光波长两者的色差，具有高透过率。

YAG激光的3次谐波（355nm）加工用的高NA无限共轭物镜。
由于设计上校正了可见谱区像差，可以与激光光束同轴观察加工面。

YAG激光的3次谐波（355nm）加工用的高NA无限共轭物镜。
由于设计上校正了可见谱区像差，可以与激光光束同轴观察加工面。