当前位置:上海麦科威半导体技术有限公司>>霍尔效应测试仪>> MKW-8400交流直流电磁铁/变温霍尔效应测试仪3-800K
产地类别 | 进口 |
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霍尔效应测试仪技术参数
测量包括:
• 迁移率测试:1 to×106 cm²/Vs;
• 载流子浓度:10 7 to 1022cm-3
• 电阻率测试
• 电阻测量范围:0.1mohm to 1Gohm
• 电流源:2pA to 100mA
• 电压测试范围:10nV-10V
• 范德堡法测试范围
• 霍尔巴法测试
磁帽:
• 可更换帽
• 标准25mm
• 在0-75mm间距连续可调
电磁铁:
• 磁体强度2.5T
• 低温 3K-300K连续变温
纳米磁学高斯计:
• 磁场扫描采用集成高斯计
• 磁场校准采用霍尔探头
• 高灵敏度的磁场测量
• 所有参数可通过软件控制
样品架:
• 4,6 or 8范德堡或霍尔巴测试设计
• 易于样品安装与弹簧连接
• 5mmx5mm-15mmx15mm样品大小,样品1-3mm厚度
控制器和软件:
• 软件可逐层的进行迁移率分析
• 基于C# 的全自动软件分析
• 非常宽的温度测试范围,3-300K
• 采用高斯计进行磁场的控制
• 非常容易的进行范德堡霍尔巴方法样品测试
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