下照式镀层测厚仪 超声厚度检测 X荧光光谱 返回列表页

下照式镀层测厚仪 超声厚度检测 X荧光光谱

T300V下照式镀层测厚仪

T300V是佳谱仪器集多年X荧光光谱仪技术积累与镀层应用经验，专门设计研发的 一 款下照式结构的镀层测厚 仪，性价比高、适用性强。该款采用优良的FP算法同时搭配高速数字多道技术，  应对各大小平面件、曲面件金属镀层及电镀液检测时检出 限低，性能稳定，检出限可达0.005um，是一款颇具客户 好评的C型腔体设计的实用型膜厚仪。

应用领域

优良配置，值得更优性能

相比图2普通接收器，T300V采用了更为优良的高分辨率探测器，能将不同元素的信号准确 解析，针对单层、多层或复杂合金镀层的测量，测量精度更高，稳定性更好。

仪器参数

选择T300V的理由

检测实例

     电镀层，油漆层，陶瓷层，铝瓦，铜瓦，磷化层，纸张的厚度测量，也可用于船体油漆及水下结构件的附着物的厚度测量。具有耐磨硬质金属探针的弹簧导套式探头，不但能在坚硬或粗糙的表面上进行测量，而且能保证测头具有不变的压紧力和稳定的取样植。使用一款快速、连接、可靠的，简化超声厚度检测流程。测厚仪可用作精密或腐蚀测厚仪，满足苛刻的应用要求。测厚仪具有优良的超声功能、高达60 Hz更新率的快速扫描速度以及集成的无线连接功能，能够在无缝工作流程中提供值得信赖的结果。连接：集成蓝牙、USB、RS-232和可移动microSD卡*快速：以快2倍的显示更新率扫描最小厚度区域**用途广泛：使用我们的全系列双晶和单晶探头，可应对多种厚度应用镀层膜厚仪，简称为，镀层厚度检测仪，是用来专业测量，金镍，铜厚，等，镀层的厚度的标准仪器。简介 镀层膜厚仪，简称为，镀层厚度检测仪，是用来专业测量，金镍，铜厚，等，镀层的厚度的标准仪器。检测镀层厚度也有一定要求，镀层厚度要求分散能力是具有比

T300V下照式镀层测厚仪

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