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在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织,整个测试过程无任何损伤。SI-PIN探测 直读分析法+基本参数法FP
在不损害或不影响被检测对象使用性能,不伤害被检测对象内部组织,整个测试过程无任何损伤。直读分析法+基本参数法FP SI-PIN探测
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