您好, 欢迎来到化工仪器网

行业产品

| 注册| 产品展厅| 收藏该商铺

18698665927

products

首页>>大连创锐光谱科技有限公司>>产品展示>>半导体光学检测系列>>SiC衬底位错缺陷无损检测系统

产品分类品牌分类

全部 热门 品牌

  • 碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统 参考价：面议

    碳化硅衬底检测,碳化硅成像检测,碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统：最高检测速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分类识别。
    型号： 厂商性质：生产商所在地：大连市 对比
    SiC衬底位错缺陷无损检测无损检测仪
    2024/12/4 11:14:451598
1共1页,1条记录 跳转

会员登录

请输入账号

请输入密码

=

请输验证码

收藏该商铺

查看我的收藏夹设置标签
标签：
保存成功

(空格分隔,最多3个,单个标签最多10个字符)

常用：

提示

您的留言已提交成功！我们将在第一时间回复您~
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，化工仪器网对此不承担任何保证责任。温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
在线留言