台式x射线吸收谱仪 参考价：面议
台式x射线吸收谱仪主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。
同步辐射X射线吸收近边结构 参考价：面议
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪同步辐射X射线吸收近边结构主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配...
扩展x射线吸收精细结构谱仪 参考价：面议
扩展x射线吸收精细结构谱仪主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。
吸收边迁移 参考价：面议
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪吸收边迁移主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长...
X射线吸收光谱测试 参考价：面议
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪X射线吸收光谱测试主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位...
衍射光栅 参考价：面议
CT型真空紫外光谱仪，采⽤Czerny-Turner光学结构，可以在空间上将复⾊光分成⼀系列单⾊光，系统由平⾯衍射光栅、前后准直聚焦镜及CCD探测器组成。
双PMT探测器 参考价：面议
真空紫外分光光度计 双PMT探测器主要是⽤氘灯作为光源，发出的光在真空下经过收光系统聚焦到单⾊器，经单⾊器分光扫描选择出需要的单⾊光，再聚焦到样品处。系统采⽤双...
单色光 参考价：面议
真空紫外分光光度计 单色光主要是⽤氘灯作为光源，发出的光在真空下经过收光系统聚焦到单⾊器，经单⾊器分光扫描选择出需要的单⾊光，再聚焦到样品处。系统采⽤双PMT探...
XANES 参考价：面议
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪XANES主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长...
X射线近边吸收谱 参考价：面议
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪 X射线近边吸收谱主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位...
配位结构表征 参考价：面议
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪 配位结构表征主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与...
极紫外光源 参考价：面议
CT型真空紫外光谱仪 极紫外光源，采⽤Czerny-Turner光学结构，可以在空间上将复⾊光分成⼀系列单⾊光，系统由平⾯衍射光栅、前后准直聚焦镜及CCD探测器...
探测器研究 参考价：面议
CT型真空紫外光谱仪 探测器研究，采⽤Czerny-Turner光学结构，可以在空间上将复⾊光分成⼀系列单⾊光，系统由平⾯衍射光栅、前后准直聚焦镜及CCD探测器...
单色光成像 参考价：面议
CT型真空紫外光谱仪 单色光成像，采⽤Czerny-Turner光学结构，可以在空间上将复⾊光分成⼀系列单⾊光，系统由平⾯衍射光栅、前后准直聚焦镜及CCD探测器...
斜入射光栅单色器 参考价：面议
斜入射光栅单色器 ， 采用斜入射式结构， 利⽤平面光栅进行分光，具有较高的传输效率，同时对光谱脉冲宽度展宽较小，可以实现点到点的单色光成像。主要用于极紫外波段的...
真空紫外分光光度计 参考价：面议
真空紫外分光光度计主要是⽤氘灯作为光源，发出的光在真空下经过收光系统聚焦到单⾊器，经单⾊器分光扫描选择出需要的单⾊光，再聚焦到样品处。系统采⽤双PMT探测器采集...
超环面光栅单色器 参考价：面议
采用像差校正超环面光栅进行衍射分光，可以在较宽光谱范围内保证高的光谱分辨和光通量。 通过选配不同的光栅型号，可以实现10-300nm范围的光谱覆盖。
NIM型真空紫外光谱仪 参考价：面议
采用Seya- Namioka光路结构，入射狭缝和CCD探测器位于罗兰圆上，可以单色模式和光谱模式切用 。
CT型真空紫外光谱仪 参考价：面议
CT型真空紫外光谱仪，采⽤Czerny-Turner光学结构，可以在空间上将复⾊光分成⼀系列单⾊光，系统由平⾯衍射光栅、前后准直聚焦镜及CCD探测器组成。
⾼分辨平场光谱仪 参考价：面议
⾼分辨平场光谱仪，采⽤全息凹球⾯变线距光栅进⾏分光，具有平场特性，便于使⽤⾯阵CCD记录光谱。光栅⼯作在掠⼊射模式下，衍射效率⾼，同时通过选⽤不同的光栅型号，可...
平场光谱仪 参考价：面议
平场光谱仪，采用全息凹球面变线距光栅进行分光，具有平场特性，便于使用面阵CCD记录光谱。光栅工作在掠入射模式下，衍射效率高，同时通过选用不同的光栅型号，可以实现...
x射线吸收发射谱仪 参考价：面议
X射线吸收精细结构（XAFS）谱仪主要测量元素K/L吸收边及其附近的吸收率变化，广泛应用于诊断材料的局域特性，例如核心原子的价态、 配位数、位形与键长。
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