一. 产品介绍

二维显微应变测量系统是一款基于DIC技术的二维非接触式应变仪，通过具有水平激光自动对焦模组的高精度单目显微镜，配合原位加载台或冷热台，可实现微米级微观试样加载过程的图像采集，系统软件完成对图像的计算，并实时输出测量的变形结果。

二. 应用领域：

测量微小试样的二维应变，适用于生物材料、半导体材料、电子产品、碳纤维材料和零件的抗拉、抗压、抗弯、受热变形等领域。

三. 产品优势：

·　非接触式测量

·　全场测量

·　不受温度限制，可实现高低温状态下测量，可测量温度范围-190℃——600℃

·　不受应变范围限制，可测量应变范围：0.005%—2000%

·　不受试样形状限制，板状、棒状、片状、线状、薄膜

·　不受应变方向限制，可同时实现多个方向的变形和应变测量

四. 产品参数：