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OPTM 系列显微分光膜厚仪 参考价：面议
OPTM 系列显微分光膜厚仪使用显微光谱法在微小区域内通过绝对反射率进行测量，可进行高精度膜厚度/光学常数分析。可通过非破坏性和非接触方式测量涂膜的厚度，例如各...
ZETA电位 · 粒径 · 分子量测试系统·ELSZneo 参考价：面议
ELSZ series的高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。...
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