WEEE有害元素荧光X射线检查装置返回列表页

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产品型号XGT-5700WR

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更新时间：2023-07-27 12:50:50浏览次数：1576次

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HORIBA（过程&环境）: 烟气分析系统大气污染成分分析过程分析 RoHS检测仪器油份分析仪水质测量分析光泽仪水处理及环境

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产品简介

应用领域化工,石油,建材,电子,汽车 ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置在保留XGT-1000WRX射线荧光光谱仪优点的基础上，Horiba又推出用于微区分析的X荧光分析仪。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技术，可将X射线聚集成10m射线束。不但可以对样品的表面进行形貌扫描，也可对样品的内部结构透视扫描，甚至还可以实现元素扫描.

详情介绍

ROHS/ELV/WEEE有害元素荧光X射线检查装置

在保留XGT-1000WRX射线荧光光谱仪优点的基础上，Horiba又推出用于微区分析的X荧光分析仪。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技术，可将X射线聚集成10µm射线束。不但可以对样品的表面进行形貌扫描，也可对样品的内部结构透视扫描，甚至还可以实现元素扫描.

概要

应用

PCB基板的扫描为例

电子组件内部的异物、故障解析为例

特征

	XGT-5700WR系列
X线照射径	Ø3mm标准 Ø100μm或Ø10μm
一次X线滤膜	Ø3mm照射径:4种自动切换 Ø10μm照射径:无滤膜 Ø100μm照射径:无滤膜
二次X线滤膜	用于金属中有害元素高灵敏度测定的标准装备（ON/OFF自动切换）
X线检测器	液体氮气冷却3L
X线检测器	高纯度Si检测器
样品形状	不超过350×400×40mm
样品载台	扫描范围：100×100mm､ 200×200mm（可选）