ESD微型器件兼容性测试机台 返回列表页

TET东京电子株式会社 ESD微型器件兼容性测试机台 EMD-625E：

本产品对于目视困难的微细间距DUT和微小尺寸DUT等半导体器件可进行准确的探测。
另外，可不用探针进行晶圆等级的ESD试验：
1.适合各种形状的样品。
2.理想的微型器件ESD测试。
3.可通过选件实现HBM，MM测试。
4.HBM测试最高8KV。

ESD 模拟器

·MR/GMR头

·小零件、芯片

·LCD 板

·TR、IC 二极管等

·LCD 板·小模块

·PC 板功率，信号 Pins

·lC 卡、Memory 卡

通用指标

·测试 pin: 单 pin

·满足标准: JEDEC,AEC,EOS

·DC 测试功能: 最大 30V/ 1A，(最小10mV/10nA )*

·测试电压: HBM 125V~8KV : MM 10V~2KV·ESD 脉冲数: 1~10 或连续

·DUT 固定部件: IC 插孔或仅被测件

·HBM 应用

·HBM 应用和破坏判断功能

·MM 应用

·MM 测试和破坏判断功能

详情请联系