DTA-1550差热分析仪 返回列表页

DTA-1550差热分析仪

仪器简介:  

DTA-1550差热分析仪是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。在DTA试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。

     主要测量与热量有关的物理、化学变化，如物质的熔点、熔化热、结晶与结晶热、相变反应热、热稳定性（氧化诱导期）、玻璃化转变温度、氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

技术参数:

1.

温度范围: 室温~1550℃  

2.

量程范围: 0～±2000μV

3.

升温速率: 0.1~80℃/min

4.

温度分辨率: 0.01℃

5.

温度重复性: ±0.1℃

6.  DTA

精度: 0.01μV

7.

控温方式: 升温：程序控制  可根据需要进行参数的调整

恒温：程序控制  恒温时间任意设定

8.

曲线扫描: 升温扫描

9.

气氛控制: 仪器自动切换

10.

主要特点：

1.

全新全封闭式高级陶瓷炉体设计结构，大大提升灵敏度和分辨率以及更好的基线稳定性。

2.

采用进口合金传感器，更抗腐蚀，抗氧化，传感器灵敏度高。

3.

采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更精确。

4.

采用USB双向通讯，实现智能化操作。

5.

采用7寸24bit色全彩LCD触摸屏，实时显示仪器的状态和数据。

6.

智能化软件设计，仪器全程自动绘图，软件可实现各种数据处理，如热焓的计算、玻璃化转变温度、氧化诱导期、物质的熔点及结晶等等。

参考标准：

GB/T 19466.2

– 2004 / ISO 11357-2: 1999第2部分：玻璃化转变温度的测定；

GB/T 19466.3

– 2004 / ISO 11357-3: 1999第3部分：熔融和结晶温度及热焓的测定；

GB /T 19466.6- 2009/ISO 11357-3 :1999

第6部分氧化诱导期 氧化诱导时间（等温OIT)和氧化诱导温度（动要态OIT)的测定。