用途：

INSPECT系列测量金相显微镜适用于半导体封装、焊接贴片、环路高度、FPD面板（LCM）、晶片级CSP等领域。

仪器特点：

■ 高精度大理石底座和立柱、有效保证高的稳定性及刚性

■ 大理石工作台设计、配合精密V型交叉导轨、长久使用不会变形，有效保证高的机械精度

■ 高品质光学系统和高分辨率CCD，确保拥有高品质的测量画面

■ 三环八区LED环形表面冷光源及轮廓光源、避免灯光发热而影响精密工件的变形

■ 可选配日本尼康原装倾斜三目镜筒+五段变倍鼻轮

■ 自主研发影像测量仪软件、功能强大、操作简单 

INSPECT系列测量金相显微镜技术参数：