一、阻抗分析仪 简介：
在宽广的阻抗范围内提供 0.65% 的基本准确度。可以选配材料测量选件以执行温度特征分析，并能够直接得到介电常数和导磁率读数，是表征和评测电子元器件、半导体器件和材料的理想方案。
二、阻抗分析仪 技术参数：
1. 3 种可升级的频率选件：1 MHz 至 500 MHz/1 GHz/3 GHz
2. ±0.65% 基本准确度和 120 mΩ 至 52 kΩ 阻抗范围
3. 测量参数：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、|Γ|、Γx、Γy、θΓ、Vac、Iac、Vdc1、Idc1（1. 需要选件 001）
4. 内置直流偏置（选件 001）：0 V 至 ±40 V，0 A 至 ±100 mA
5. 数据分析功能：等效电路分析、极限线测试
6. 介电/磁性材料测量（选件 002）：|εr|、εr'、εr''、tanδ(ε)、|μr|、μr'、μr''、tanδ(μ)
7. 提供温度特征测量（选件 007）和可靠的晶圆上测量（选件 010）
8. 提供温度特征分析功能，并能够直接得到介电常数和导磁率的读数
9.探头台连接套件（选件 010）可以在高达 3 GHz 的频率范围内提供准确的晶圆上或微型元器件阻抗测量解决方案
三、企业简介：
深圳市矢量科学仪器有限公司是集半导体仪器装备代理及技术服务的高新技术企业。
致力于提供半导体制程工艺装备、后道封装装备、半导体分析测试设备、半导体光电测试仪表及相关仪器装备维护、保养、售后技术支持及实验室整体服务。
公司已授实用新型权利 29 项，软件著作权 14 项，是创新型中小企业、科技型中小企业、规模以上工业企业。
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