线光源测试设备 参考价：面议
线光源测试设备线激光测试系统(LLPS)是一个用于分析长度高达200mm和宽度为55μm的线激光器解决方案。通过使用50/200mm线性位移台，搭载DataRa...
大尺寸光斑分析仪-200mm 参考价：面议
大尺寸光斑分析仪-200mm大尺寸光斑分析仪，检测200mm成像区域，成套系统包含：WinCamD-LCM CMOS光斑分析仪，成像透镜，透射式屏幕组件。
dataray 参考价：面议
dataray提供灵活的M2测试配套仪器，可按照客户的激光参数选择50mm或则200mm行程的扫描移位台，可搭载他们全系列的光斑分析产品/Beam R2组合而成...
BeamMap2 XYZΘΦ 扫描狭缝光斑分析仪 参考价：面议
BeamMap2 XYZΘΦ 扫描狭缝光斑分析仪DataRay的BeamMap2代表了一种*不同的实时光束轮廓分析方法。它允许在光束行进的多个位置进行测...
Beam’R2 XY 扫描狭缝光斑分析仪 参考价：面议
Beam’R2 XY 扫描狭缝光斑分析仪DataRay的Beam'R2非常适合许多激光光束轮廓分析应用。利用标准的2.5μm狭缝和较大的刀口狭缝，Beam'R2...
TaperCamD-LCM大尺寸CMOS光束分析仪 25mm 参考价：面议
TaperCamD-LCM大尺寸CMOS光束分析仪 25mmTaperCamD-LCM具有25 x 25 mm的大有效面积，4.2 M像素，12.5 x 12....
BladeCam-HR/XHR 0.5英寸 CMOS 光斑分析仪 参考价：面议
BladeCam-HR/XHR 0.5英寸 CMOS 光斑分析仪高分辨率和高度紧凑的BladeCam™光束轮廓仪的像素尺寸为3.2μm，厚度仅为0....
WinCamD-THz 1英寸CMOS THz 光斑分析仪 参考价：面议
WinCamD-THz 1英寸CMOS THz 光斑分析仪WinCamD™-THz具有较大的有效面积，高空间分辨率，全局快门和快速帧频等特点，非常适...
宽带2-16 µm MWIR FIR光束分析仪 参考价：面议
宽带2-16 µm MWIR FIR光束分析仪WinCamD-IR-BB是针对MWIR和FIR范围内的激光器的成像解决方案。基于微测辐射热计的相机具有...
WinCamD-UHR/XHR 0.5英寸 CMOS光束分析仪 参考价：面议
WinCamD-UHR/XHR 0.5英寸 CMOS光束分析仪WinCamD UHR / XHR非常适合任何激光束轮廓分析应用。像素尺寸低至3.2μm，适合于光...
WinCamD-QD-1550的高分辨率光束轮廓 参考价：面议
WinCamD-QD-1550的高分辨率光束轮廓WinCamD-QD-1550是用于可见光和SWIR范围内激光的成像解决方案。WinCamD-QD-1550具有...
激光光束质量分析仪 参考价：面议
激光光束质量分析仪WinCamD-LCM 1英寸 CMOS光束分析仪WinCamD-LCM系列具有11.3 x 11.3 mm的有效区域，4.2 M像素，5.5...
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