泰勒霍普森、粗糙度仪SURTRONIC DUO 返回列表页

泰勒霍普森、粗糙度仪SURTRONIC DUO

Surtronic Duo II 的特点:

测量 - 触觉测量按钮，适用难测到的位置

分体式 - 通过滑轨和锁定装置，分为显示/控制装置和驱动装置两部分

金刚石测针和压电传感器 - 带金刚石坚固耐磨的压电传感器测针，确保测量结果的可靠性。

蓝牙技术 - 在驱动装置和显示/控制装置之间进行快速可靠的通信

泰勒霍普森粗糙度仪TAYLOR HOBSON SURTRONIC DUO技术指标

分辨率： 0.01µm（0.4µin）

量程（Ra）： 40µm（1600µin）

（Rz、Rv、Rp、Rt）： 199µm（7800µin）

重复性： 示值的 2% + 噪声

精度： 读数的 5% + 0.1µm（4µin）

噪声： 0.02µm（0.8µin）

标准： ISO4287

参数： Ra、Rz、Rv、Rp、Rt、Rz1mzx、Rsk、Rq、Rku，

Pa、Pz、Pv、Pp、Pt

传感器类型： 压电式

测针类型： 金刚石，半径 5µm（200µin）

测量力： 200mg

测量类型： 导块式

滤波器类型： 高斯滤波

取样长度： 0.8mm

驱动长度： 5mm（0.2in）

驱动速度： 2mm/秒（0.08in/秒）

单位： µm、µin

电池： 锂充电电池

充电时间： 4 小时

充电器： 输入 交流 110-240V 50/60Hz 输出 Mini USB 5V 1A

待机到工作状态： ≤5 秒

自动休眠： 5 分钟

操作环境： 温度：0-40℃ 湿度：0-80%非冷凝

存储环境： 温度：0-50℃ 湿度：0-80%非冷凝