菲希尔涂层Fischer 返回列表页

菲希尔涂层Fischer

菲希尔X射线测厚仪Fischerscope x-ray XAN500一台仪器，三种作业模式：XAN®500不只是一台手持便携式XRF设备，它还可以转变为台式仪器或者整合到生产线中。

Fischerscope MMS PC2采用不同测量技术的模块化系统：非常适用于与涂镀层厚度测量和材料测试相关的各种需求。

COULOSCOPE CMS2台式测厚仪，几乎可测量金属或非金属底材上所有金属镀层（包括多镀层）的厚度。

菲希尔GOLDSCOPE系列X射线荧光仪器是专为分析黄金和其他贵金属而设计的

菲希尔X射线测厚仪XAN用于快速、地测量镀层厚度及材料成分分析的测量仪器。

菲希尔X射线测厚仪XUL / XULM基于 X 射线荧光法的测试仪器，坚固耐用，快速、地测量镀层厚度，特别适用于电镀行业。

菲希尔X射线测厚仪XDL / XDLM / XDAL功能强大：XDL 系列仪器具有的配置方案，可手动或自动测试，是镀层厚度测量与材料成分分析的理想之选。

菲希尔X射线测厚仪XDV-SDDFISCHERSCOPE® XDV-SDD专为满足要求的镀层厚度测量和材料分析而设计

菲希尔X射线测厚仪XDV-µFISCHER的XDV-µ型系列仪器，可用于测量电子或珠宝等行业中最微小结构的产品

菲希尔X射线测厚仪XUVX 射线荧光仪器，配有用于分析轻元素的真空测量室。

菲希尔X射线测厚仪XDL / XDLM / XDAL凭借电机驱动（可选）与自上而下的测量方向，XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号，从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。