X射线测厚仪FISCHECOPE X-RAY XAN 500 ，通用手持式X射线荧光分析仪，即使材料组合困难复杂的情况下，也可以进行精确的镀层厚度测量和材料分析...

DMP20，在非磁性金属基材上测量不导电涂层的厚度，在铁磁性金属基材上测量非铁磁性涂镀层的厚度。

DMP10，DMP 系列的便携性、功能使其具有足够的通用性，可用于广泛的应用。这些灵活的设备是接触式和非破坏性测量铁基材和有色金属基材上涂层厚度的解决方案。

ISOSCOPE DMP10，Fischer涡流法测厚仪，磁感应测厚仪，双功能测厚仪，镀镍层测厚仪。

新的 DMP 系列为磁性和非磁性金属基材的接触式和非破坏性涂镀层厚度测量设定了标准。 坚固而现代的设计、优化的功能、数字探头和直观的 Tactile Suite...

SR-SCOPE DMP30，犹如人们生活需要空气，涂层测厚仪需要合适的测量方法probe。 它对测量结果的质量起着决定性的作用。探头可视为涂层测厚仪的核心。因...

菲希尔代理DMP20，DUALSCOPE®在非磁性金属基材上测量不导电涂层的厚度，在铁磁性金属基材上测量非铁磁性涂镀层的厚度。

菲希尔DMP10磁感应测厚仪，为了保证质量控制能够快速、顺利、可靠地进行，对涂层测厚仪的要求和涂层本身一样高。 1953年，Helmut Fischer在其位于...

DUALSCOPE FMP40菲希尔,在非磁性金属基材上测量不导电涂层的厚度，在铁磁性金属基材上测量非铁磁性涂镀层的厚度。菲希尔双功能测厚仪DMP40

FISCHER DMP30菲希尔代理，测量非磁性金属基材上的非导电层和测量磁性基材上的非磁性层

Fischer代理测厚仪DMP20，数字和模拟探头适用于广泛的应用，使用 F-Adapter，您仍然可以访问整个 Fischer 探头产品组合

DMP30，

Fischer DMP20，在非磁性金属基材上测量不导电涂层的厚度，在铁磁性金属基材上测量非铁磁性涂镀层的厚度。

菲希尔涂层测厚仪DMP10，在非磁性金属基材上测量不导电涂层的厚度，在铁磁性金属基材上测量非铁磁性涂镀层的厚度。

菲希尔测厚仪DMP10。50多年来，德国 Helmut Fischer GmbH Ititutefor Electronics and Metrology公司于...

菲希尔涂层测厚仪HELMUT FISCHER代理，在数据组和全部数据中显示重要的统计特征，以及分析方差(ANOVA)值

DUALSCOPE DMP20，测量非磁性金属基材上的非导电层和测量磁性基材上的非磁性层。测量磁性基材上的非磁性层。

DELTASCOPE DMP30，Fischer磁感应测厚仪，菲希尔涂层测厚仪，菲希尔代理，Fischer代理

DELTASCOPE DMP10，数字和模拟探头适用于广泛的应用，使用 F-Adapter，您仍然可以访问整个 Fischer 探头产品组合

ISOSCOPE DMP30，测量磁性或非磁性金属基材上的非磁性或非导电涂镀层,Fischer测厚仪