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当前位置：无锡骏展仪器有限责任公司>>德国FISCHER菲希尔测厚仪>>Fischer菲希尔测厚仪>> Couloscope CMS2 库仑法测厚仪
X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
菲希尔库伦法测厚仪测量原理
Fischer测厚仪COULOSCOPE CMS2这个系列仪器根据DIN EN ISO 2177标准的库仑法。 金属或非金属基材上的金属镀层，通过在控制电流条件下电解腐蚀——实际上就是电镀的反过程。所载入的电流与要剥离的镀层厚度是成正比的，假如电流和剥离面积保持不变，镀层厚度与电解时间就是成正比的关系。
COULOSCOPE CMS2测量槽——可比作微型电解缸——被用来剥离镀层。 测量面积由装在测量槽上的垫圈尺寸来决定。对不同的金属采用不同配方的电解液。通过载入电流开始电解过程。 电解过程由COULSCOPE仪器的电子部分控制， 用一个泵搅拌电解液来使电解区域电解液平稳腐蚀，保证电解液最佳利用。 根据测量区域的大小，各种直径的垫圈 可供选择。
Couloscope CMS2 库仑法测厚仪
菲希尔电解法测厚仪，库仑法的成本效益高，可精确地替代X射线荧光法-前提是你可以接受一种破坏性的测量方法。它为您提供了灵活性，因为它可以用于广泛的镀层组合。您可以使用库仑法测量镀层厚度，特别是在电镀镀层的质量控制中，以及用于监测印刷电路板上的残余纯锡厚度。
COULOSCOPE CMS2 STEP测试:库仑法测量镀层厚度和多层镍的电化学电位测量
如果你想在使用库仑法测量镀层厚度的同时测量电化学电势，那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的选择。STEP测试方法可以同时测量多层镍镀层的电位差和镀层厚度，非常适合测定这些镀层的腐蚀行为。
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