铜上镀镍厚度测量仪菲希尔库伦法测厚仪 返回列表页

铜上镀镍厚度测量仪菲希尔库伦法测厚仪

铜上镀镍厚度测量仪菲希尔库伦法测厚仪

COULOSCOPE CMS2可以测量几乎所有基材上金属镀层的厚度，包括多镀层结构; 它的工作原理是根据阳极溶解的库仑法 （DIN EN ISO 2177）。 简单的操作和菜单化的操作指导使CMS2成为电镀行业生产监控和质量检验理想的解决方法。设备为不同的镀层结构配备了近100个预留的应用程式（例如，铁上镀锌，黄铜上镀镍）, 以及各种电解速度（例如1, 2, 5, and 10 μm/min）。

德国FISCHER菲希尔COULOSCOPE CMS2库伦法测厚仪-----根据库仑法测量镀层厚度和多层镍电位差。库仑法是一种简单易属镀层厚度的电化学分析方法。 这个方法主要应用于检查电镀层的质量，现在也适用于监控印刷线路板剩余纯锡的厚度 。CM乎所有基材上金属镀层的厚度，包括多镀层结构; 它的工作原理是根据阳极溶解的库仑法（DIN EN ISO 2177）。 简单的操作和指导使 CMS2 成为电镀行业生产监控和质量检验理想的解决方法。 设备为不同的镀层结构配备了近 100 个预留的应用程式锌，黄铜上镀镍） , 以及各种电解速度（例如 1, 2, 5, and 10 μm/min）。这些应用程式适用于多镀层系统。COULOSCOPE C通过电解退镀方式测量镀层厚度。还可使用库仑法精确测定任何类型底材上的多镀层厚度。CSM2 STEP 版本可对单种镀层进测试，以检测电位差（如多层镍涂层的质量控制）。

菲希尔库伦法测厚仪测量原理

这个系列仪器根据DIN EN ISO 2177标准的库仑法。 金属或非金属基材上的金属镀层，通过在控制电流条件下电解腐蚀——实际上就是电镀的反过程。所载入的电流与要剥离的镀层厚度是成正比的，假如电流和剥离面积保持不变，镀层厚度与电解时间就是成正比的关系。

测量槽——可比作微型电解缸——被用来剥离镀层。 测量面积由装在测量槽上的垫圈尺寸来决定。对不同的金属采用不同配方的电解液。通过载入电流开始电解过程。 电解过程由COULSCOPE仪器的电子部分控制， 用一个泵搅拌电解液来使电解区域电解液平稳腐蚀，保证电解液最佳利用。 根据测量区域的大小，各种直径的垫圈 可供选择。