菲希尔镀层测厚仪XDL230 返回列表页

菲希尔镀层测厚仪XDL230

菲希尔镀层测厚仪XDL230

菲希尔镀层测厚仪对于FISCHERSCOPE X-RAYXUL和XULM系列来说，X射线源和接收器位于测量室的下方，菲希尔镀层测厚仪这样可以快速方便地定位样品。菲希尔镀层测厚仪除此以外，视频窗口也可以辅助定位，仪器前方的大控制台简化了操作，特别是在日常生产中测量大量部件时特别有用。

菲希尔xdl230尽管结构紧凑，菲希尔xdl230但这些仪器都有大容量的测量室，菲希尔xdl230这样大的物品也可以测量。壳体的开槽设计（C型槽）可以测量诸如印刷线路板类大而平整的样品，即使这些样品可能无法*放入测量室。

菲希尔测厚仪样品直接放置在平整的支撑台上，或者定位精度更高的手动XY工作台上。XUL和XULM都配备了比例接收器；但是它们配备的X射线管，滤片和准直器是不同的。菲希尔测厚仪便宜耐用的XUL配备了一个准直器和一个固定的滤片。内置的标准X-RAY管产生的基本射线光束较大；菲希尔测厚仪因此最小可用的准直器为0.3 mm。基于光线的扩散，最小的测量点在0.7 mm – 1mm左右。

菲希尔测厚仪XULM适合测量小的结构。它配备了微聚焦管，测量点最小可达约100μｍ，同时比例接收器仍然可以保持相对高的计数率。即使很短的测量时间也可以达到很好的重复精度。此外，XULM配备了可自动切换的准直器和多种滤片可以灵活地为不同的测量应用创造最佳的激励条件。

应用实例

菲希尔测厚仪XULM特别适合测量细小的部件如连接器，触点或线，也可以测量印刷线路板上的Au，Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的超薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量，20秒的重复精度可达2.5nm。