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菲希尔测厚仪X-RAY XUV 773

菲希尔测厚仪X-RAY XUV 773

FISCHERSCOPE X-RAY XUV仪器配有一个可抽真空的大型测量箱。其所装备的大面积硅漂移探测器能够探测低至1 keV的荧光辐射能量，从而能够有效地测量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L辐射。大孔径准直器的使用大幅提高了信号计数率，使仪器可以达到很小的重复精度和很低的测量下限。XUV非常适合测量很薄的镀层和痕量分析。菲希尔x射线测厚仪

X-RAY XUV 773采用不同的准直器和基本滤片组合，能够保证每一次的测量都在*佳的条件下完成。在测量的同时，可以直观地查看测量点的影像。仪器测量空间宽大，样品放置便捷，配合可编程的XYZ轴工作台，既适合测量平面、大型板材类样品，也适合形状复杂的样品。并且使得连续测量分析镀层厚度或元素分析也变得直观而简单。X-RAY XUV 773仪器配有一个激光定位点作为辅助定位装置，进一步方便了样品的快速定位基于仪器的通用设计以及真空测量箱所带来的扩展的测量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不仅可用于研究和开发，也非常适合过程控制和实验室使用。菲希尔x射线测厚仪

菲希尔测厚仪Fischerscope X-RAY

X-RAY XUV 773一个软件实现镀层厚度测量和材料分析两个功能

扩展统计功能。例如，测量结果可以记录并转为SPC图表显示

图像识别：WinFTM可以自行查找预设的测量位置

基于基本参数分析的无标准片测量：在手边样本组成未知的情况下实现精确的测量结果

X-RAY XUV 773距离控制测量（DCM）：无需移动轴即可保持与不规则形状样品的正确测量距离。只需将摄像头聚焦到样品表面即可。剩下的由WinFTM软件完成。这要比移动轴快。此外，没有轴与样品碰撞的风险

菲希尔x射线测厚仪测量质量：我们的仪器可以判断您的测量质量。错误地选择了错误的测量任务或测量了错误的样品？您的FISCHERSCOPE仪器会提醒您

无锡骏展仪器有限责任公司起源于美国,英国,德国和其他地区的合作伙伴,与全系列的产品资源和服务,光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、测量工具测量工具和其他类型的测试设备,努力为客户解决快速分析的测量技术挑战,联合提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案，有效推动企业实现既定目标。

菲希尔Feritscope FMP30铁素体含量测试仪根据磁感应方法测量奥氏体钢和双相钢中的铁素体含量。仪器能识别所有的磁性部件，也就是说，除了delta铁素体，还能识别其转化形式马氏体。仪器符合Basler标准和DIN 32514-1标准，适合于现场检测，可以测量奥氏体覆层、不锈钢管道、容器和锅炉焊缝内以及奥氏体钢或双相钢制造的其他产品内的铁素体含量。

菲希尔Feritscope FMP30铁素体含量测试仪用于化工设备和石油加工厂通常要承受高温、高压，同时要耐腐蚀。外部环境要求所用钢 材即使在高温下也要有足够的耐腐蚀和耐酸性能。如果铁素体含量太低，焊缝受热后容易产生裂纹；如果铁素体含量太高，焊缝将丧失韧性和延展性。对于双相钢，如果铁素体含量太低，焊缝受到张力或发生振动时容易破裂。