MX63和MX63L显微镜 返回列表页

MX63和MX63L显微镜用于材料学的配置：

1、BX53M反射和反射/透射观察BX53M IR观察BX3M系列有两种显微镜机架，一种仅用于反射光，一种用于反射光和透射光组合。两种机架都可配置手动、编码或电动部件，并且都配备有ESD防静电功能。

2、BX53M IR观察BX3M系列有两种显微镜机架，一种仅用于反射光，一种用于反射光和透射光组合。两种机架都可配置手动、编码或电动部件，并且都配备有ESD防静电功能。IR物镜可用于透过硅材料成像，进行半导体检查和测量。配备了5倍到100倍红外（IR）物镜，提供了从可见光波长到近红外的像差校正。对于高放大倍率的物镜，配备了LCPLN-IR系列带校正环的物镜，校正由样品厚度导致的像差。使用一个物镜即可获取清晰的图像

3、BX53M偏光显微镜具有鲜明的偏光成像，是地质学家的理想之选。比如矿物鉴定、晶体光学特性的分析和岩石薄片的鉴定等各种研究，都得益于稳定的显微镜系统性和精密的光学系统。

MX63和MX63L显微镜系统支持检测尺寸达300毫米的晶圆、平板显示器、印刷电路板以及其他样品的质量。这些符合人体工学设计的人性化系统采用模块化设计，可在各种应用中实现理想的观察条件。结合奥林巴斯Stream图像分析软件使用时，从观察到生成报告的整个检测流程更简洁直观。

满足电子行业需求：

应用反射光显微镜在很多应用和行业中普遍应用。以下是采用不同的观察方法所达到的一些效果示例。

暗场/MIX、荧光/MIX、投射/MIX、微分干涉、偏光红外（IR)