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目录:筱晓(上海)光子技术有限公司>>光学测量仪器>>光束/光斑质量分析仪>> WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析仪

WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析仪
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参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
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  • 品牌 其他品牌
  • 型号
  • 厂商性质 经销商
  • 所在地 上海市
属性

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更新时间:2024-12-06 16:38:00浏览次数:1137评价

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产地类别 进口 价格区间 面议
应用领域 化工,建材/家具,电子/电池 组成要素 半导体激光器产品及设备
WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析仪
应用

CW 激光轮廓

激光器和基于激光器的系统的现场服务

光学组件和仪器对准

使用可用的M2DU平台进行M²测量

WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析仪


产品总览

WinCamD UHR / XHR非常适合任何激光束轮廓分析应用。像素尺寸低至3.2μm,适合于光束。UCD系列都具有全局域快门,使其成为脉冲激光束轮廓分析的优秀选择。 软件功能齐全,可高度定制,且不收取许可费用,无限制安装和免费软件更新。它非常适合以下应用:CW和脉冲激光轮廓分析;激光系统的现场服务;光学组件;仪器对准;光束漂移和记录;研发; OEM集成;质量控制和可用M2DU平台进行M2测量。

通用参数

特点

355-1150 nm(标准),335-1350nm,

1480-1605nm(UHR),190-1150nm(XHR)

S-WCD-UHR :1280 x 1024,6.6 x 5.3 mm, 5.2 µm

S-WCD-XHR :2048 x 1536, 6.5 x 4.9 mm,3.2 µm

USB 2.0接口;

25,000:1电子自动快门,40 µs至1000 ms

1,000:1 SNR(30/60 dB光学/电气)

M²选项–光束传播分析,发散,聚焦



应用

CW 激光轮廓

激光器和基于激光器的系统的现场服务

光学组件和仪器对准

使用可用的M2DU平台进行M²测量



WinCamD-XHR 0.5英寸 CMOS光束分析仪




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