垂直磁各向异性评价系统 BH-R810( 显微镜/测振/磁光克尔) 参考价：面议
垂直磁各向异性评价系统 BH-R810( 显微镜/测振/磁光克尔)产品总览在固定磁场方向下具有旋转样品架的角度依赖性分析系统。
热辅助磁记录介质的非接触HAM/RTAMR评估系统( 显微镜/测振/磁光克尔) 参考价：面议
热辅助磁记录介质的非接触HAM/RTAMR评估系统( 显微镜/测振/磁光克尔)产品总览产生磁场±6.5T的热（Thermal）辅助磁记录介质（HAMR...
软磁层评价系统 BH-618HS-P20（ 显微镜/测振/磁光克尔） 参考价：面议
软磁层评价系统 BH-618HS-P20（ 显微镜/测振/磁光克尔）产品总览软磁层的非接触式评估系统，例如具有映射和倾斜角测量功能的硬盘介质中的 SUL。
垂直磁记录介质评价体系 BH-810CPC（ 显微镜/测振/磁光克尔） 参考价：面议
垂直磁记录介质评价体系 BH-810CPC（ 显微镜/测振/磁光克尔）产品总览具有映射评估功能的硬盘垂直记录介质（PMR）非接触评估系统。
微型克尔环路测量系统 BH-PI920 系列（ 显微镜/测振/磁光克尔） 参考价：面议
微型克尔环路测量系统 BH-PI920 系列（ 显微镜/测振/磁光克尔）产品总览基于二极管激光器的克尔环路测量系统。可进行几微米尺度的显微局部测量。
克尔环路测量和域观测系统 BH-1071（显微OCT扫频测振/磁光克） 参考价：面议
克尔环路测量和域观测系统 BH-1071（显微OCT扫频测振/磁光克）用于动态（实时）磁畴观测和显微克尔环测量的组合系统。
基于激光GHz声波振动观测系统 500MHz～6GHz（显微OCT扫频测振/磁光克） 参考价：面议
基于激光GHz声波振动观测系统 500MHz～6GHz（显微OCT扫频测振/磁光克）基于激光的观测系统，专门设计用于显示基于电介质/压电的高频设备的表面声波 s...
用于晶圆的纵向克尔效应量测系统 BH-618SK（显微OCT扫频测振/磁光克） 参考价：面议
用于晶圆的纵向克尔效应量测系统 BH-618SK（显微OCT扫频测振/磁光克）用于8英寸或12英寸晶圆的硬盘磁头和磁传感器目标映射测量的非接触式评估系统。
用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25（显微OCT扫频测振/磁光克） 参考价：面议
用于晶圆的极向克尔效应测量系统 BH-810CPC25（显微OCT扫频测振/磁光克）用于磁性半导体的 8 英寸或 12 英寸晶圆目标映射测量的非接触式评估系统。
FS70L4 用于半导体检测显微镜（显微OCT扫频测振） 参考价：面议
FS70L4 用于半导体检测显微镜（显微OCT扫频测振）特点采用Mitutoyo远场校正镜头三端输出设计可轻松接收视频转盘可接最多四个物镜
极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像) （显微OCT 参考价：面议
极紫外和软x射线辐射EUV显微镜 (Metrology计量学 无损亚纳米级次表面成像) （显微OCT扫频测振）产品总览三维无损成像技术在材料科学和医学等许多应用...
中红外MIR光电探测器 2.6-4.6um (TO-18 光敏直径0.5mm) 参考价：面议
筱晓(上海)光子技术有限公司是一家被上海市评为高新技术企业的专业光学服务公司，业务涵盖设备代理以及项目合作研发，建有*的AOL(Advanced Optical...
FS70L-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 TV接口激光) 参考价：面议
FS70L-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 TV接口激光) 特点采用Mitutoyo远场校正镜头三端输出设计可轻松接收视频转盘可接最多四个物镜
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