INT05-N 迈克尔逊 PLX 单片干涉仪 (NIR FTIR 光谱仪的主要光学组件) 参考价：面议
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超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm) 参考价：面议
超宽中红外光束质量分析仪(不带M2测试，光敏面：15.3×12.2mm)产品描述：筱晓光子的红外光束质量分析仪，可以实现1.2-15μm范围内的光斑探...
超宽中红外光束质量分析仪(带M2测试，光敏面：10.8×8.7mm) 参考价：面议
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BladeCam2-HR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm 参考价：面议
BladeCam2-HR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm 产品应用连续激光的光束分析激光和激光系统的现场测试光学组装和仪器校准光束漂移和记录...
FS70-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 可调光通比 C-mount接口)（观察仪） 参考价：面议
FS70-TH 用于半导体检测显微镜 (1X管镜头 可调光通比 C-mount接口)（观察仪）应用：切割、修整、校正、 给半导体电路做标记薄膜(绝缘膜) 清洁与...
CUBE-ER100偏振消光比测试仪 参考价：面议
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FS70Z-TH 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 C-mount) （观察仪） 参考价：面议
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BladeCam2-HR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150nm 参考价：面议
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BladeCam2-XHR-ND4 CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm 参考价：面议
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BladeCam2-XHR CMOS基础型光斑分析仪相机 355-1150nm 参考价：面议
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Atik VS系列 CCD高分辨率长曝光工业相机 (1460 x 1932) 参考价：面议
Atik VS系列 CCD高分辨率长曝光工业相机 (1460 x 1932) 产品总览这款柔性冷却相机支持多种索尼CCD传感器，满足了大多数科学原始设备制造商和...
FS70L4 用于半导体检测显微镜（显微OCT扫频测振） 参考价：面议
FS70L4 用于半导体检测显微镜（显微OCT扫频测振）特点采用Mitutoyo远场校正镜头三端输出设计可轻松接收视频转盘可接最多四个物镜
FS70Z 用于半导体检测显微镜 (1x-2x管镜头 固定光通比50/50 C-mount) （观察 参考价：面议
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BladeCam2-XHR-UV CMOS基础型光斑分析仪相机 190-1150 nm 参考价：面议
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FS70L4-TH 用于半导体检测显微镜 (1x管镜头 C-mount带开关) (观察镜) 参考价：面议
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可调焦小光斑光纤准直器 参考价：9999
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Cobra-S 800 超高速光谱仪 参考价：19999
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Redback RS15k 紧凑型高分辨率近红外中阶梯光栅光谱仪 950-1650nm 参考价：面议
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Bristol 671A-IR 高精度激光光谱分析仪及波长计 1-5um 参考价：面议
筱晓(上海)光子技术有限公司,MCT探测器,半导体激光二极管,中红外QCL激光器,光纤放大器,光电探测器Bristol 671A-IR 高精度激光光谱分析仪及波...
InGaAs 铟镓砷 TEC热电冷却近红外相机 900-1700nm（机器视觉） 参考价：面议
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MP3821S型InGaAs焦平面相机 （镜头） 参考价：面议
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近红外InGaAs 铟镓砷相机 ARTCAM-131TNIR 900~1700nm（机器视觉） 参考价：面议
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近红外InGaAs铟镓砷相机 991SWIR-TEC 400-1700nｍ （机器视觉） 参考价：面议
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中近红外InGaAs线传感器SWIR相机 1100-1900nm (GigE Vision接口) 参考价：面议
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