窗口类型 | 无窗 | 分辨率 | 126eVeV |
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峰背比 | NA | 价格区间 | 面议 |
探测器类 | 硅漂移探测器(SDD) | 探测器面积 | 60 mm2 ( 4 × 15 mm2)mm |
仪器种类 | 进口 | 应用领域 | 医疗卫生,环保,生物产业,能源,综合 |
最大计数率 | 大于4,000,000 cpscps | 元素检测范围 | B (5) to Am (95) |
产品简介
详细介绍
FlatQUAD布鲁克能谱仪是一款平插式探测器.置于扫描电镜极靴和样品之间。四块硅漂移品体成环形排列于中心孔四周,入射电子束从中心孔穿过。适用于不同的工作距离并具有优异的性能。
OUANTAX FlatQUAD是基于革命性的XFlash' FlatQUAD探测器的EDS微区分析系统。这一*设计的环形四通道SDD探测器工作时位于扫描电镜极靴和样品之间,能够获得EDS分析较大的固体角。结合ESPRIT分析软件QUANTAXFlatQUAD系统对于传统斜插式能谱很难分析的样品,可提供优的元素面分布效果。
使用新的探测器技术
QUANTAX FlarQUAD系统的核心一-XFlash FlarCUAD探测探测福配置了不同厚度的特殊聚合物窗口,可吸收不同器。基于新颖的探测器设计理念.安装于扫描电镜样晶加速 电压下的背散射电子。仓的水平接口,使探测器置于电镜极靴和样品之间。而传统的探测器则采用电镜的倾斜接口。XFlash" FlatOUAD探测器能够与不同类型的扫描电镜兼容。
FlatQUAD布鲁克能谱仪探测器的探头组件中,四个独立的硅漂移芯片成环形排列于中心孔四周,入射电子束从该中心孔穿过。探测器材料经过特殊选择.避免对电子束产生影响.保证高质量的电镜图像。