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| 窗口类型 | SW | 分辨率 | 121、123、126、129eV |
|---|---|---|---|
| 峰背比 | NA | 价格区间 | 面议 |
| 探测器类 | 硅漂移探测器（SDD） | 探测器面积 | 10/30/60/100 mm2mm |
| 仪器种类 | 进口 | 应用领域 | 医疗卫生,环保,生物产业,能源,综合 |
| 最大计数率 | 600kcpscps | 元素检测范围 | Be - Am |
产品简介
详细介绍
布鲁克 QUANTAX 能谱仪结合了出色的能量分辨率和 30 毫米更大的固体角度®活动区域芯片。这使得探测器对希望在EDS应用的整个谱图中使用探测器的分析中非常有吸引力，从轻元素分析到快速面扫描Mapping，以及EDS和EBSD测量的结合。XFlash6-30一定会提供快速的结果。
一：XFlash6-30具有以下优点：
1.XFlash 6-30 出色的能量分辨率（Mn K® 的 123 eV，C K® 的 45 eV 和 F K+ 的 53 eV）®
2.其他可用分辨率为 Mn K® 的 126 eV和129 eV
3.*的脉冲处理能力
4.出色的轻元素和低能量X-ray分析性能（Be - Am 元素范围）
5.空气冷却，不会因为其他冷却系统而产生震动
6.电源打开后立即可用
7.运营成本低
8.免维护操作
9.小尺寸，包括 slim-line technology finger
10.重量低
二：布鲁克 QUANTAX 能谱仪推荐应用领域包括：
1.XFlash 6-30用于 SEM、microprobe、FIB-SEM 的 EDS 系统（焊接波纹管可作为选项使用）
2.将 EDS 和快速 EBSD 分析与eFlash FS 相结合
3.快速元素面扫描
