NanoScan 2s Si/3.5/1.8狭缝扫描光束分析仪 返回列表页

NanoScan 2s Si/3.5/1.8狭缝扫描光束分析仪

扫描式光束分析是一种经典的光斑测量技术，通过狭缝 / 小孔取样激光光束的一部分，将取样部分通过单点光电探测器测量强度，再通过扫描狭缝 / 小孔的位置，复原整个光斑的分布。

扫描式光束分析仪的优点 :

取样尺度可以到微米量级，远小于 CCD 像素，可获得较高的空间分辨率而无需放大；

采用单点探测器，适应紫外 ~ 中远红外宽范围波段；

单点探测器具备很高的动态范围，一个探头可同时适应弱光和强光分析。

扫描式光束分析仪的缺点 : 

多次扫描重构光束分布，不适合输出不稳定的激光；

不适合非典型分布的激光，近场光斑有热斑、有条纹等的状况。

扫描式光束分析仪与相机式光束分析仪是互补关系而非替代关系；在很多应用，如小光斑测量（焦点测量）、红外高分辨率光束分析等方面，扫描式光束分析仪具备du特的优势。

NanoScan 2s Si/3.5/1.8狭缝扫描光束分析仪

NanoScan 2s Si/3.5/1.8  7µm至~2.3mm

NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器，精确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行全面分析。

光束尺寸7µm至~2.3mm

功率级范围为~10nW至~10W

USB 2.0接口

包含NanoScan标准或专业软件

PH00456

NS2s-SI/3.5/1.8-STD

狭缝扫描式小光束轮廓分析仪：硅探测器，3.5mm孔径，1.8µm狭缝

PH00464

NS2s-Si/3.5/1.8-PRO

狭缝扫描式小光束轮廓分析仪：硅探测器，3.5mm孔径，1.8µm狭缝

产品规格

产品名称：NanoScan 2s Si/3.5/1.8

传感器类型：Silicon Photodetector

光谱范围：190 to 1100 nm

狭缝尺寸：1.8 µm

孔径尺寸：3.5 mm

光束尺寸：7 μm to 2.3 mm

扫描头尺寸：83 mm

功率范围：10 nW to 10 W

通信：USB 2.0