TF lab 2020非接触式涡流薄膜电阻测试仪 返回列表页

TF lab 2020非接触式涡流薄膜电阻测试仪

EddyCus® TF lab 2020 系列允许在非接触模式下对导电薄膜进行手动单点测量和薄金属层的层厚测量。 紧凑的台式设备非常适合快速准确地测量最大 200 x 200 mm²（8 x 8 英寸）的样品。 除了测量薄的导电层外，还可以分析掺杂的晶片和导电聚合物。

亮点

非接触式实时测量

精确测量导电薄膜

隐藏和封装导电层的表征

测量数据保存和导出功能

特征

薄层电阻

金属层的厚度测量

单点测量

质量控制，输入和输出控制

样品尺寸：10 x 10 mm² 至 200 x 200 mm²（0.5 x 0.5 英寸至 8 x 8 英寸）

测量范围：0.1 mOhm/sq 至 100 kOhm/sq

应用

镀膜建筑玻璃，例如 LOWE

显示器、触摸屏和平板显示器

OLED和LED应用

智能玻璃

石墨烯层

光伏晶片和电池

半导体晶圆

金属化层和晶圆金属化

除冰和加热应用

电池电极

导电涂层纸和导电纺织品

TF lab 2020非接触式涡流薄膜电阻测试仪分类

EddyCus® TF lab 2020SR – 非接触式单点薄层电阻测试仪

EddyCus® TF lab 2020MT – 非接触式单点金属测厚仪

EddyCus® TF lab 2020A – 非接触式电气各向异性和薄层电阻测试仪

EddyCus® TF lab 2020HF – 介电常数、电导率和磁导率相关测量任务的分析仪

EddyCus® TF lab 2020RM – 多功能单点电阻率测试仪