当前位置:上海梓梦科技有限公司>>材料分析设备>>晶体出现率分析仪>> ZMP-960晶体出现率分析仪
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一、结构原理
ZMP-960晶体出现率分析仪工作原理是通过专用高分辨率CCD线性传感器和显微光学扫描平台,将颗粒图像信息采集下来并传输到计算机中,用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析。结合智能的背景分离的颗粒边界搜索算法,将目标颗粒与背景分离,分析出各种测量参数,并通过显示器和打印机输出。
该仪器具有超大测量范围及高分辨率,同时具有直观、可视、准确、操作简单、测量参数全面等特点。能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的新型颗粒分析仪器。
二、产品介绍
ZMP-960晶体出现率分析仪可以直接对透明贴剂中析出的晶体进行扫描,按照规定扫描范围进行扫描一定的面积,将其中的晶体识别出来并做数量统计。软件可以内置公式得出晶体出现率。
三、性能指标
1.测量范围:1μm ~ 100mm
2.图像分辨率:900万像素
3.光学平台:100mm * 120mm
4 背景光源:反射光
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