损耗分析-准费米能级检测仪 参考价:面议
Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 损耗分析-准费米能级检测仪,可视觉化呈现QFLS image,一眼即可掌握样品QFLS、Pseudo J-V、P...优良光电探测器量子效率与参数分析系统 参考价:面议
APD-QE 采用了光束空间强度技术,利用 ASTM 标准制定的「Irradiance Mode」测试方式,与各种优良探尖台形成完整的微米级光感测器全光谱效率测...Enlitech 光伏电池效率损失分析仪 参考价:面议
光焱科技 QE-RX光伏电池效率损失分析仪 可用于高效太阳能电池研发。QE-RX 不仅可以测量 PV-EQE、反射率和 PV-IQE 数据,还可以通过结合分析软...光谱响应测试与光电探测器特性分析 参考价:面议
传统的量子效率系统在新型光电探测器面临许多测试方法挑战。光焱科技针对新世代的光电探测器 (PD) 提供了完整解决方案~命名为 PD-QE光谱响应测试与光电传感器...光致发光与发光量子产率测试系统 参考价:面议
LQ-100X-PL外部量子效率eqe,外量子效率eqe测试系统适用测试PLQY (Photoluminescence Quantum Yield, 光致发光量...光电器件响应测量与光侦测器 参考价:面议
PD-RS光电器件响应测量与光侦测器可针对光电器件 (探测器或光伏器件) 进行光电转换过程的响应行为测量与分析。太阳能电池Voc损耗分析仪 参考价:面议
光焱科技REPS+與G2 Voc损耗分析仪是一个完整的系统,可以帮助科学家测量、计算和分析工作中的太阳能电池中的 Voc-loss,并为下一步的工艺改进提供思路...雷射扫描缺陷图谱仪 参考价:面议
激光扫描缺陷成像仪是激光束感应电流(LBIC)测试的升级版本。它利用波长能量大于半导体带隙的激光束照射半导体,产生电子空穴对。通过快速扫描样品表面,获得揭示内部...光焱科技光高灵敏度外部量子效率系统 参考价:面议
在半导体器件中,不完好的结晶度往往会导致禁带隙中的缺陷或陷阱态,这极大地影响了器件的整体光学和电学性能。由于带隙中的吸收系数极低,产生的光电流信号也极弱。因此,...光焱科技量子效率测试系统 参考价:面议
光焱科技QE-R量子效率测试系统采用了高效的椭圆反射器,比传统的球形透镜和反射器具有更高的集光效率。且于60cm x 60cm x 60.7cm 的主体内集成了...钙钛矿太阳能电池瞬态光电流光电压测试仪 参考价:面议
光电流、开路电压的瞬态特性、载流子迁移率、载流子寿命、载流子动力学过程等是新型太阳电池器件的重要参数。由于新型太阳电池器件面积小、光电流小,非常难以准确测量出光...光焱科技 电致发光效率测试系统 参考价:面议
LQ-50X-EL 光焱科技电致发光效率测试系统 拥有以下几点特色:采用单光子侦测技术、NIR 增强光学设计与组件、简便的设计可与手套箱直接整合,能解决目前LE...