MorphoVIEW 系列图像粒度粒形分析仪用于测量颗粒粒度与粒形参数。颗粒粒度粒形是反应颗粒特性的基本指标，它决定了颗粒的物理、化学、力学等特性。为了控制产品...

Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小，其表面的晶体结构发生变化，从而在电学、光学和化学...

MorphoVIEWS380静态图像粒度粒形分析仪基于显微镜结构，通过自动样品台带动颗粒在平面内移动，使用高分辨率相机逐张进行拍照，在图像采集过程中颗粒保持静止...

MorphoVIEW系列动态图像粒度粒形分析仪，在运动过程中捕捉颗粒的图像，具有采样量大，无取向误差等特点。利用高分辨率工业相机，颗粒图像更清晰，测量结果更准确...

9x9系列纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量...

9x9系列纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量...

9x9系列纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量...

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9x9系列纳米粒度及Zeta电位分析仪以高速数字相关器为核心器件，使用动态光散射技术测量颗粒粒度，使用相位分析光散射技术测量Zeta电位，使用静态光散射技术测量...

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