X射线荧光分析专用薄膜 返回列表页

X射线荧光分析专用薄膜   54-L77/10005353   样品膜

1、产品名称：X射线荧光分析专用薄膜（POLY MHP）

2、产品规格：100mx75mm/卷

3、适用于台式荧光分析仪Benchtop XRF  ，型号：LabX3000，LabX3500，X-Supreme8000，MDX1000

4、其他说明：适用于测量液体里元素含量应用。

5、X射线荧光分析铝质液体或粉状样品杯内套以及样品杯盖54-CK-100/新货号10011741，测量石油产品，汽柴油，PTA溶液，粉末状样品等。

日立高新技术X荧光光谱仪样品前处理设备与耗材的研发和生产，是XRF前处理设备和耗材领域的厂商。日立高新样品杯和样品膜广泛应用于XRF的样品制备和分析检测过程，日立高新样品膜薄膜张力特性，与日立高新样品杯组合使用，可盛放各类金属重物、液体、浆状或粉末样品，适用所有X射线荧光光谱仪。

日立高新技术分析科学零件和消耗品的设计旨在与客户仪器融合，帮助客户优化性能和生产力。