PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆

PicoFemto透射电镜TEM冷冻样品杆，TEM冷冻样品杆可以使被观测样品处于液氮低温下，减弱了电子束辐照对样品的损伤，同时也能研究材料的低温结构。透射电子显微镜原位加热/电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的微加热芯片和电学测量芯片。微加热芯片可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
     TEM冷冻样品杆性能指标：

● 兼容型号电镜及极靴；

● 保证电镜真空度；

● 温度变化范围：低至85 K；

● 可选高倾角版本。

• 部分国内用户

  

  部分国外用户