泽攸透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统 参考价：面议
泽攸透射电镜原位MEMS加热/电学测量系统，透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。
泽攸透射电镜原位MEMS低温电学测量系统 参考价：面议
泽攸透射电镜原位MEMS低温电学测量系统，是在标配MEMS芯片样品杆上集成低温控制模块，实现低温电学测量或全温区测量功能。
泽攸透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统 参考价：面议
泽攸透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统，采用全新的O圈辅助密封设计，更易封装液体。实验中，样品被密封在很薄氮化硅薄膜覆盖的液体池内，池内可以承载一个大气压。...
泽攸透射电镜原位MEMS气氛加热测量系统 参考价：面议
泽攸透射电镜原位MEMS气氛加热测量系统，在透射电子显微镜中制造气氛及高温环境，实现1 Bar & 800 ℃的端观测条件。
泽攸透射电镜原位STM-TEM电学测量系统 参考价：面议
泽攸透射电镜原位STM-TEM电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量
泽攸STM-TEM力电一体测量系统 参考价：面议
泽攸STM-TEM力电一体测量系统 是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量
泽攸STM-TEM光电一体测量系统 参考价：面议
泽攸STM-TEM光电一体测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量
泽攸透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统 参考价：面议
泽攸透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统 ,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量
泽攸透射电镜原位高温力学测量系统 参考价：面议
泽攸透射电镜原位高温力学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量。
泽攸MEMS-STM-TEM多场测量系统 参考价：面议
泽攸MEMS-STM-TEM多场测量系统，原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力、热、光、电等）。
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量 参考价：面议
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统,是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量
透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统 参考价：面议
PicoFemto透射电镜原位MEMS液体电化学测量系统，采用全新的O圈辅助密封设计，更易封装液体。
透射电镜原位MEMS气氛加热测量系统 参考价：面议
PicoFemto透射电镜原位MEMS气氛加热测量系统，在透射电子显微镜中制造气氛及高温环境，实现1 Bar & 800 ℃的端观测条件。
透射电镜原位STM-TEM电学测量系统 参考价：面议
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM电学测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学...
透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统 参考价：面议
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM力电一体测量系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在...
透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统 参考价：面议
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM光电一体测量系统，是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可...
透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统 参考价：面议
PicoFemto透射电镜原位STM-TEM低温电学测量系统可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射...
PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统 参考价：面议
PicoFemto透射电镜原位高温力学测量系统，同时集成了力学测量模块及MEMS芯片模块，可以在对样品1000 ℃加热的同时进行定量的力学测量。
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统 参考价：面议
PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多场测量系统是原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力、热、光、电...
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