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产品简介
详细介绍
日本尼康CMM第三代激光扫描测头，革命性第三代激光扫描测头 精度可媲美接触式测头 LC15Dx *可以替代接触式测头，用于日益普遍的高精度三坐标测量机应用。该机器可在不影响生产周期的情况下更精确地测量产品尺寸。此外，它还能更高效地测量多种部件、几何体及材料，其中包括因尺寸极小或易碎而不宜使用接触式测头测量的部件。
革命性第三代激光扫描测头
精度可媲美接触式测头
LC15Dx *可以替代接触式测头，用于日益普遍的高精度三坐标测量机应用。该机器可在不影响生产周期的情况下更精确地测量产品尺寸。此外，它还能更高效地测量多种部件、几何体及材料，其中包括因尺寸极小或易碎而不宜使用接触式测头测量的部件。
优点
精度可媲美接触式测头
采用激光扫描测头技术的 LC15Dx 达到了与接触式测头同级别的精度。在按照 ISO 10360-2 MPEP 和 ISO 10360-5 MPEAL 的测试中，LC15Dx 达到了与使用三坐标测量机和接触式测头相当的精度。但与接触式测头不同的是，LC15Dx 使用非接触式 3D 激光三角测量法直接测量物体表面并消除了测头补偿误差。扫描测头内部装有热稳定器，可解决激光扫描测头在未达到工作温度时容易出现的不稳定和延迟问题。
操作轻松的多功能扫描
尼康 ESP3 技术可针对每个测量点实时智能调整激光设定。它可以更高效地测量更多种类的表面材料、饰面、颜色及连接体（包括小尺寸和易碎部件）及混合材料的尺寸，且无需用户干预、手动调节以及表面喷粉。*的滤光软件过滤若干非正常反射，而高级日光滤光片则可吸收环境光。
更高的产品质量检测水准
全局比较功能可提供产品外观尺寸的全 3D 视图。整个部件可与 CAD 模型进行对比检查，并用色彩映射高亮显示需要关注的区域。还可使用弹出菜单、截面图和几何尺寸与公差（GD&T）库进行进一步的研究和分析。用户可根据需要让设备自动生成或简易或详细的测量报告。
软件
适合各类应用的直观软件
LC15Dx 可使用包括 FOCUS 和 CAMIO在内，适用于部件与 CAD 对比检测和特征检测的常用软件工具包。
重要功能包括：
• CAD 编程 • 多传感器三坐标测量机
• 拟合 • 离线编程
• 部件与 CAD 对比 • 点云测量
• 特征检测 • GD&T 库
• 叶片分析 • 教学编程
• 色彩报告 • 离线模拟
应用
测量高精度部件和小型几何体
LC15Dx 在测量多种高精度部件和几何体（包括精细部件、半钢性部件和高性能材料）时具有显著优势：
处理：生产 － 研发 － 逆向工程
方法：机械加工 － 模塑 － 模压 － 浇铸 － 锻造
材料：金属 － 塑料 － 橡胶 － 陶土 － 陶瓷 － 合成材料
表面处理：机械加工 － 抛光 － 电镀 － 油漆 － 混色
结构： 刚硬 － 柔软 － 柔韧 － 易碎
特征： 表面 － 几何特征 － 剖面 － 截面
多传感器三坐标测量机
结合激光扫描和接触式探测
某些情况下，采用单传感器技术无法测量所有特征。LC15Dx 可结合使用选购的接触式测头构成多传感器三坐标多功能测量机。根据应用需求，可在相同的检测项目中单独或共同使用这两项技术。在三坐标测量机平台上加装切换和存储支架选购件后，可以自动切换传感器。
升级改造
提升当前三座标测量机的能力
使用 LC15Dx 来改进您当前的三座标测量机是一种低成本高收益的解决方案。这种改进基于现有的三座标测量机控制器硬件，附之以兼容的*测头系统，构成可进行接触及非接触式测量的多传感器三座标多功能测量机。
LC15Dx 改进套件可用于以下三座标测量机控制器系统。
• Aberlink • Hexagon DEA • Renishaw
• Deva • Hexagon Brown & Sharpe • Wenze
• Coord3 • Hexagon Sheffield • Werth
• Dukin • Mitutoyo • Zeiss
规 格
| 探测误差（MPEP）1 | 2.5μm (0.0001in) |
| 多测针测试（MpeAL）2 | 6μm (0.00024in) |
| 分辨率（点距） | 22μm (0.00087in) |
| 数据采集（近似值） | 70,000 点／秒 |
| 每线点数（近似值） | 900 |
| 测量温度范围 | 18-22°C (64.4-71.6°F) |
| 工作温度范围 | 10-40°C (50-104°F) |
| 预热时间 | 0（零）秒 |
| 重量 | 370g (13oz) |
| 防护等级 | IP30 |
| 电源 | 110/240VAc, 50/60Hz 5A |
| 增强扫描测头性能（ESP3） | √ |
| 日光滤光片 | √ |
| 测头兼容性3 | PH10M, PH10MQ, CW43, PHS |
| 激光类型 | 2 类（670μm） |
日本尼康CMM第三代激光扫描测头，革命性第三代激光扫描测头 精度可媲美接触式测头 LC15Dx *可以替代接触式测头，用于日益普遍的高精度三坐标测量机应用。该机器可在不影响生产周期的情况下更精确地测量产品尺寸。此外，它还能更高效地测量多种部件、几何体及材料，其中包括因尺寸极小或易碎而不宜使用接触式测头测量的部件。