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半导体专业检测设备

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  • 半导体晶圆厚度测量系统 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000半导体晶圆厚度测量系统采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    半导体晶圆测量系统晶圆厚度测量系统晶圆检测机无图晶圆几何量测系统晶圆厚度测量设备
    2025/4/7 10:33:161018

  • 半导体晶圆表面形貌检测设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000系列半导体晶圆表面形貌检测设备采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、L...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    半导体晶圆检测设备晶圆检测设备晶圆形貌检测设备晶圆表面形貌检测设备晶圆检测机
    2025/4/7 10:13:181555

  • 晶圆几何形貌自动检测机 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000系列晶圆几何形貌自动检测机采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆检测机晶圆形貌检测机晶圆几何形貌检测机晶圆自动检测机无图晶圆几何量测系统
    2025/4/7 9:57:171013

  • 晶圆表面形貌测量设备 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：WD4000
    WD4000晶圆表面形貌测量设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏...
    型号： WD4000 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆形貌测量设备晶圆表面粗糙度测量设备晶圆表面形貌测量晶圆形貌测量系统半导体晶圆检测
    2025/4/7 9:00:011070

  • WD4000无图晶圆几何量测系统 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：
    WD4000无图晶圆几何量测系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳...
    型号： 品牌：CHOTEST/中图仪器所在地：深圳市 对比
    晶圆几何量测系统无图晶圆检测机晶圆检测系统半导体晶圆检测无图晶圆检测设备
    2025/4/7 8:50:261216
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