OLED发光效率测量系统_发光效率测量系统-巨力光电（北京）科技有限公司

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产品分类 品牌分类

测量模式	交流	产地类别	进口
价格区间	面议	应用领域	环保,化工,生物产业,能源,电子

OLED发光效率测量系统,我公司推出OLED光谱性能测试系统，OLED发射光谱测量系统，OLED光谱分析仪，OLED光电性能测试系统（IVL曲线，外量子效率EQE），OLED载流子迁移率测量系统、光电性能评估系统以及软件模拟研发系统，为广大科研工作者和研发机构提供了有效的测试工具。

OLED发光效率测量系统

产品名称：OLED/LED电致发光/光致发光测量系统，EL/PL测量系统，多角度光谱测量系统，发光效率测量系统，发光光谱测量系统，外量子效率测量系统。

Phelos用于测量OLED、钙钛矿LED及其他发光器件的发射光谱特性和极化角，同时也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系，计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。

技术优势

• 角度依赖的PL光致发光谱分析

• 角度依赖的EL电致发光谱分析

• 角度依赖的发光分析

• 兼容顶发光和底发光结构的OLED的及其他发光器件

• p- and s-偏振态检测

• 偏振角度连续扫描

• 发光层中发光偶极子检测及偶极子趋向分析

• 兼容各种几何尺寸样品

• 样品便捷对准

• 可与Setfos结合，对发光层进行分析

测量功能

• 颜色效率分析

• 可视角分析

• 量子效率EQE

• 流明效率lm/W

• 发光效率Cd/A

• 发光区域拟合

• 发光趋向分析

• 发光特性角度依赖分析

• 光谱和颜色VS. 发射角

• 发光层中偏振态分析

• 散射特性分析

• 工作点

• 效能 (cd/A)

• CIE 坐标

• 色温和显色指数等分析

• 电流-电压-亮度(J-V-L)曲线测量

• 光谱辐照度/强度

• 辐射强度

• 亮度

技术规格

Photoluminescence and Electroluminescence
角度范围	-90° to +90°, top and bottom emission
角度分辨率	< 0.5°
光谱范围	360 to 1100 nm
光谱分辨率	2.5 nm *
信噪比	300:1
电压范围	± 20 V
电流范围	± 120 mA
*小分辨电流	< 100 pA
伺服偏振器	0 to 360° (continuous)
样品台尺寸	40 x 40 mm²
PL 激发光	275 nm to 405 nm(默认365nm)
PL 激发光光斑	5 x 3 mm²
设备重量	18 kg
设备尺寸	50 x 29 x 24 cm³