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大塚电子(苏州)有限公司>>光纤光谱仪>>透光率测试>> MCPD透过率测试仪

透过率测试仪

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参考价 面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号 MCPD
  • 品牌 OTSUKA/日本大塚
  • 厂商性质 生产商
  • 所在地 苏州市
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更新时间:2020-06-12 16:03:25浏览次数:1522

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产品简介

按探测器 CCD 光谱范围 紫外
价格区间 面议 应用领域 医疗卫生,化工,电子/电池,包装/造纸/印刷,电气
MCPD系列透过率测试仪能对紫外、可视、红外区域的光谱进行高速、高灵敏度的检测。共12个波长,可配合客户的需求与测量用途,选择适合的检测器。

详细介绍

 

 

 

MCPD系列透过率测试仪

(MCPD-9800/MCPD-3700/MCPD-7700)

提供丰富选配套件以及客制化光纤,可依据安装现场需求评估设计,是一套可灵活架设于各种环境下的即时测量系统

 

 

膜厚测量

 

 

半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜涂布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包裝膜

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膜厚测量(分光光谱仪 + 显微镜)

半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿状薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能性薄膜、包装膜。

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影印機感光鼓膜厚度量測

半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)光阻剥离液厚度、湿狀薄膜塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜

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LB膜测量

01.jpg

蒸馏膜测量

02.jpg03.jpg

多点膜厚测量

  • 半导体晶圆膜(氧化膜、氮化膜、光阻膜)

  • 光阻剥离液厚度、湿狀薄膜

  • 塗布膜(Coating膜、蒸镀膜、接着剂、亚克力树脂、光碟片膜层、薄膜磁头)

  • 树脂膜(PET、PP、PE、PC、Nylon)、机能能性薄膜、包装膜

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