RT RC-02BX射线分辨率测试卡 返回列表页

JIMA RT RC-02B分辨率测试卡,X射线分辨率测试卡详细介绍：

JIMA（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
JIMA RT RC-02B分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
图案布局：L型
线/空间尺寸： 16种规格图案,
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,
2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
JIMA RT RC-04 X射线分辨率测试卡
JIMA RT RC-05分辨率测试卡



测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
图案布局：T型 （3-10μm）
I 型 （15-50μm）
线/空间尺寸：16种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)



JIMA RT RC-05 X射线分辨率测试卡



JIMA RT RC-04分辨率测试卡
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×5mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.015mm
图案布局：T型